傅立葉紅外光譜儀IS10儀器介紹： 2008 PittCon 推出的新型 Thermo Scientific Nicolet iS10 傅立葉變換紅外光譜儀突破性發(fā)展的紅外分析技術(shù)為科研和質(zhì)檢提供全新的分析理念，強(qiáng)有力的分析手段使用戶在材料的分析和鑒別上倍增信心。
傅立葉紅外光譜儀IS10能在zui短的時(shí)間內(nèi)分析具有挑戰(zhàn)性的樣品，提供zui完善的解決方案。分析實(shí)驗(yàn)室對(duì)能夠完成原材料和zui終產(chǎn)品的分析任務(wù)的儀器的需求與日俱增。 顯著簡(jiǎn)化了傳統(tǒng)傅立葉變換紅外光譜儀的數(shù)據(jù)分析，樣品采集和儀器驗(yàn)證環(huán)節(jié)，成為完成這類分析任務(wù)的一種較好的選擇。 傅立葉紅外光譜儀IS10主要特點(diǎn)：
賽默飛世爾科技的NicoletTM iSTM10傅立葉變換紅外（FT-IR）光譜儀具有如下特性：確保儀器性能；確認(rèn)材料；可創(chuàng)建實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)操作步驟（SOPs）及適應(yīng)性測(cè)試；識(shí)別未知物及混合物樣品；辨認(rèn)混合物成分。Nicolet iS10 專門為材料確認(rèn)過程而設(shè)計(jì)，涵蓋從載入樣品信息至zui終分析報(bào)告整個(gè)過程。Nicolet iS10 適用于任何技術(shù)水平的人員，許多任務(wù)只需按一個(gè)鍵即可輕松完成。
為確保儀器性能而設(shè)計(jì)
系統(tǒng)性能確認(rèn)（SPV）是一個(gè)確保光譜儀長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行的有力工具。SPV包括了按照ASTM E1421方法測(cè)試儀器的軟件和硬件。此方法使用了Shott NG-11和NIST 可追蹤標(biāo)準(zhǔn)，這些標(biāo)準(zhǔn)包括在一個(gè)內(nèi)置機(jī)輪中。Nicolet iS10 系統(tǒng)確認(rèn)可通過編程進(jìn)行，同時(shí)適用于：
*日常性能確認(rèn)
*系統(tǒng)適應(yīng)性
*確認(rèn)標(biāo)準(zhǔn)失效日期
*預(yù)定維護(hù)訪問時(shí)間
為使用簡(jiǎn)便而設(shè)計(jì)
傅立葉紅外光譜儀IS10專為使用簡(jiǎn)便而設(shè)計(jì)，并為日常工作繁重的實(shí)驗(yàn)室獲得可靠結(jié)果提供有力的保證。
*易于更換，可重復(fù)填充的干燥劑和內(nèi)置的濕度計(jì)
*一體化的掃描鍵和SOP創(chuàng)建按鈕，用戶界面簡(jiǎn)單，使用連貫
*Nicolet Smart AccessoryTM 技術(shù)簡(jiǎn)化了附件更換以及實(shí)驗(yàn)條件的安裝
*具有標(biāo)準(zhǔn)且高靈敏度相關(guān)算法的材料確認(rèn)程序包，可滿足待測(cè)材料多樣性要求
*創(chuàng)新的多成分分析方法可辨別出混合物的主要成分，有信心幫助每一個(gè)實(shí)驗(yàn)室解決有關(guān)的污染問題
光學(xué)系統(tǒng)
密封干燥的光學(xué)單元保護(hù)著儀器免除濕氣及化學(xué)溶劑蒸氣的侵蝕。一種自補(bǔ)償，動(dòng)態(tài)準(zhǔn)直的干涉計(jì)可校正傾斜，剪切掃描錯(cuò)誤，自動(dòng)調(diào)整儀器至*光通量狀態(tài)，且為實(shí)時(shí)探測(cè)和掃描提供所需掃描速度。金剛石切削定位，免調(diào)節(jié)的光學(xué)系統(tǒng)，只需zui少維護(hù)即可確保系統(tǒng)長(zhǎng)期的穩(wěn)定運(yùn)行。
檢測(cè)器
*可快速恢復(fù)的含重氫三甘醇硫酸鹽檢測(cè)器（DTGS）
*液氮冷卻的碲化鎘汞檢測(cè)器（MCT）
光源
*中紅外 Ever-Glo；用戶可從樣品室更換
*鎢/鹵素?zé)?，用戶可從樣品室更換
分束器
*KBr/Ge 中紅外區(qū)優(yōu)化
*XT-KBr/Ge 擴(kuò)展中紅外區(qū)
光譜性能確認(rèn)
*一體化機(jī)輪，包括NG-11和NIST 可追蹤聚苯乙烯膜標(biāo)準(zhǔn)，可連續(xù)化
*系統(tǒng)性能確認(rèn)（SPV）軟件和可編程任務(wù)界面
外部光束選項(xiàng)
*來(lái)自紅外顯微鏡或外部Thermo Scientific Nicolet iZTM10 FT-IR 模塊的光束
*Nicolet iZTM10 FT-IR 模塊可用于近紅外（NIR）整合范圍的TGA界面（InGaAs 探測(cè)器），或任何其他中紅外附件，并且可以裝備一個(gè)DTGS或MCT探測(cè)器。
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